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Giorno 17 febbraio 2026, con inizio alle ore 16:00, presso la Sala Conferenze del DFA, la Dr Helena Rabelo Freitas (Catalan Institute of Nanoscience and Nanotechnology – ICN2 (CSIC and BIST), Campus UAB, Bellaterra, Barcelona, Catalonia, Spain) terrà un seminario dal titolo Quantitative strain mapping in semiconductors by 4D STEM.

Tutte le persone interessate sono invitate a partecipare.

https://www.dfa.unict.it/it/content/quantitative-strain-mapping-in-semiconductors-4d-stem

Link: Abstract del seminario